Analyse de traces dans le PVDF par fluorescence X et ICP-MS avec ablation laser

La determination des elements a l'etat de traces dans le Polyfluorure de Vinylidene (PVDF) a un double interet: comparer les differents produits du marche et disposer d'elements chiffres pour la promotion de ce polymere technique dans le domaine du transport de fluides de haute purete pour l'electronique. Afin de remplacer l'analyse par voie humide, longue a mettre en oeuvre et generatrice de pollutions (reactifs) ou de pertes d'elements volatils, une etude a ete menee en utilisant les techniques de fluorescence X (FX) et plasma a couplage inductif-spectrometrie de masse (ICP-MS) avec ablation laser. Pour ce faire, des etalons synthetiques prepares a partir de latex de PVDF dopes ont ete utilises pour calibrer les methodes. Plus de 25 elements, parmi les plus caracteristiques, ont ainsi ete controles. L'etude a montre la complementarite des deux techniques. L'ICP-MS est utilise pour la determination des elements plus lourds que le gallium (limites de detection < 1 ppm), tandis que la fluorescence X permet notamment d'acceder aux elements plus legers (limite de detection 1 a quelques ppm). La mise au point de programmes de simulation rend en outre possible l'extrapolation des resultats de fluorescence X a d'autres types de polymeres ou copolymeres.