Détermination des contraintes résiduelles par diffractométrie X des couches biphasées. Application au cas de la cémentation

L'objectif de ce travail est de determiner par diffraction des rayons X les contraintes residuelles dans les deux phases presentes en surface des aciers cementes: la martensite et l'austenite residuelle. Une caracterisation fondee sur la diffraction des rayons X (quantification de phases, mesures de parametres de maille, contraintes residuelles) permet d'obtenir des resultats necessaires a la comprehension de la genese des contraintes residuelles de cementation.